111445
SiC衬底缺陷检测智能设备Aeye1406

专为8/12inch SiC衬底打造的缺陷检测装备,精准识别、定位、分类表面及亚表面各类缺陷,保障SiC衬底加工质量。

  • 产品介绍
  • 产品优势
  • 技术参数
  • 样品展示
  • 返回列表
产品介绍

整体介绍:人机工程学设计结构紧凑便于产线布局

自动搬运:伯努利无接触式真空吸附搬运,检损率<0.01%

正面检测:正面自动寻边定位读码,利用算法,对冶具支持部分在衬底成像中的印记进行淡化

对焦系统:高精度实时对焦系统,确保镜头焦距跳动不超过1微米,共享自动对焦数据

缺陷检测:缺陷成像清晰度较传统方式提升25%,让缺陷更易识别

缺陷分类识别:高精度缺陷分类识别,缺陷分类能力准

高速成像技术:分辨率提升100%、数据量增长400%、处理时间缩减5%

背面检测:自动翻面,背面自动寻边定位数码,HG自研Abrain算法高效学习理解缺陷特征


产品优势
  • 01
    4合1

    明场、暗场、相位、光致发光四通道光学

  • 02
    25%

    缺陷成像清晰度较传统方式提升25%,让缺陷更易识别

  • 03
    12分钟

    高速成像技术,在提升成像质量的同时保证检测速度不降速

  • 04
    45%

    传统算法+AI算法,提升45%的运算能力

技术参数
项 目主要技术参数
检测性能上下料方式半导体晶圆机械手上下料
检测材料碳化硅衬底
检测尺寸8/12inch
料盒个数2个标准料盒(25片/盒)
检测速度12分钟/片(8inch单面)
可检缺陷衬底缺陷:凹坑、包裹物、崩边、层错、玷污、划痕、裂纹、微管、微粒
其他装备尺寸(LxW×H)1570mm×1360mmx2130mm


样品展示
*以上数据为和第一代产品对比,来源华工激光实验室实验,仅供参考,最终以实际生产为准。
验证码
* 我已阅读数据隐私条款,并愿意接收到来自山推股份的产品信息
SiC衬底缺陷检测智能设备Aeye1406
华工激光官网登录
获取验证码 立即注册
网页聊天
live chat
网页聊天
live chat