半导体
我们的使命
创新联动美好世界
半导体
聚焦高端晶圆激光加工与精密量测核心赛道,自主打造“Laser Ultra”激光加工装备与“Aeye”灵睛量测装备两大明星产品系列,技术全面覆盖硅基、碳化硅、氮化镓等第一代至第四代半导体材料加工需求。我们率先实现从单点设备到全线工艺的跨越式突破,构建起衬底缺陷检测、晶圆激光标刻、激光退火、激光开槽/切割、晶圆裂片、探针卡制造六类产品矩阵,贯通半导体前道制造与后道封装全流程关键环节,为半导体产业提供全流程、一体化的高端装备解决方案。
  • 晶圆激光标记应用 晶圆激光标记应用

    借助激光非接触式加工工艺,保证晶圆在不造成额外损坏的情况下,在晶圆上进行稳定、清晰的标记,同时二维码读取识别率高,实现生产流程可追溯


  • 晶圆芯片内部改质切割应用 晶圆芯片内部改质切割应用

    针对晶圆激光内部改质切割,定制波长光源可在不损伤表面的情况下,改质切割8吋及以上高端、窄切割沟道硅基半导体晶圆芯片,如硅麦芯片、MEMS传感器芯片、CMOS芯片等。


  • 晶圆激光开槽应用 晶圆激光开槽应用

    利用超短脉冲激光加工Low-K晶圆,能够有效减小崩边脱层和热影响,提高开槽效率,适用范围可拓展至背金硅晶圆、硅基氮化镓晶圆、钽酸锂晶圆以及氮化镓晶圆切割等。


  • 晶圆划片应用 晶圆划片应用

    半导体行业中,晶圆越来越向轻薄化和大尺寸方向发展,激光加工已替代传统切割方式,利用超快紫外激光进行表面烧蚀切割,其激光聚焦光斑小、热影响小、切割效率高,广泛应用于硅基和化合物半导体晶圆的切割。


  • 半导体缺陷检测应用 半导体缺陷检测应用

    半导体产业链中众多环节都需要检测把关,从半导体原片、外延片的尺寸和平面度,到外观宏观缺陷,再到半导体有图形晶圆、晶粒的微观缺陷,都需要在生产过程和出厂时进行视觉检测和质量控制。


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